手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化學結構分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結果。我們提供多種型號的產品，符合您不同應用的所有分析需要和預算。
為什么選擇X-MET 光譜儀
性能優異
lX-MET提供超棒輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結果。
l通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
操作簡單
l大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
lX-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度低。
堅固耐用而擁有成本低
l符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。
l通過MIL-STD-810G耐用標準測試。
l其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。
高級數據管理
l*靈活：可將多達100,000條結果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。
應用
| X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 |
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廢金屬回收 | ? | ? | ? |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
制造與PMI QA/QC | ? | ? | ? |
貴金屬 | ? | ? | ? |
監管機構合規篩查 （消費品、包裝、原材料…） | ? | ? | |
環境土壤篩查 | ? | ||
環境土壤篩查 | ? | ||
金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? |
科技考古 | ? | ? |
鄒
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